Ar jaunajām Multipeak versijām tagad ir iespējama arī augstas precizitātes vairāku caurspīdīgu slāņu noteikšana tikai vienā mērīšanas procesā. Ir pieejami divi kontrolieru modeļi daudzpīķu attāluma mērīšanai (IMS5x00-DS/MP) vai daudzslāņu biezuma mērīšanai (IMS5400-TH/MP). Abi sistēmu varianti atšķiras ar to, ka slāņu biezumu aprēķina no attiecīgajām attāluma vērtībām attāluma sistēmās un mēra tieši biezuma sistēmā. Atkarībā no pielietojuma jūs gūsiet labumu no dažādām priekšrocībām:

Sistēmas daudzpīķu attāluma mērīšanai tiek īpaši izmantotas izlīdzināšanas un pozicionēšanas uzdevumos, kur vienlaikus jāmēra attālums un jānosaka biezums. Lielajā 2,1 mm mērījumu diapazonā var noteikt līdz pat 13 slāņiem ar minimālo biezumu līdz 10 µm (BK7). Attiecībā uz precizitāti mērījumu veic no liela attāluma - aptuveni 19 mm. Pateicoties absolūtajiem mērījumiem, sistēma nav jāreferencē pat pēc signāla pārtraukuma, piemēram, soļu vai malu gadījumā.

Daudzslāņu biezuma mērīšanas sistēmas vienmēr tiek izmantotas, ja nepieciešamas no attāluma neatkarīgas biezuma vērtības līdz pat 5 slāņiem. Biezuma mērīšanas diapazonā 2,1 mm var mērīt atsevišķus slāņus līdz 35 µm (BK7) ar procesa stabilitāti. Mērāmā objekta attāluma svārstības kompensē lielais darba diapazons, tāpēc vibrācijas vai citas materiāla kustības neietekmē mērījumus. Vēl viena biezuma sistēmu priekšrocība ir lielais bāzes attālums: mērījumus var veikt līdz pat 70 mm attālumā no mērķa, kas nodrošina procesa uzticamību un pasargā sensoru no bojājumiem.

Visām sistēmām ir moderna un intuitīva tīmekļa saskarne, kas ļauj viegli konfigurēt sistēmu. Turklāt daudzveidīgās saskarnes (EtherCAT, Ethernet, PROFINET, EtherNet/IP, RS422, analogās) piedāvā daudzas integrācijas iespējas. Rūpnieciskai lietošanai interferometra sensori ir aprīkoti ar augstu IP65 aizsardzības klasi. Kā papildaprīkojums ir pieejamas arī ar vakuumu saderīgas sistēmas.

Baltās gaismas interferometru priekšrocības

• Labākā izšķirtspēja savā klasē <30 pm
• Linearitāte līdz ±10 nm nanometru precizitātei
• No attāluma neatkarīgi biezuma mērījumi
• Var izmērīt līdz 13 slāņiem ar minimālo biezumu līdz 10 µm
• Robusta sistēma procesu ziņā stabiliem mērījumu rezultātiem
• Liels attālums līdz mērķim ar 2,1 mm mērīšanas diapazonu
• Pilotlāzers vizualizē mērīšanas punktu un nodrošina optisko atgriezenisko saiti par mērīšanas pozīciju