MICRO-EPSILON Messtechnik GmbH & Co. KG
23.09.2026 01:09
profileGAUGE X.LP-3D ir līnijas mērīšanas sistēma, kas paredzēta profilu un pusfabrikātu precīzai 3D ģeometrijas pārbaudei. Četri scanCONTROL lāzera skeneri vienlaikus reģistrē mērāmo objektu no vairākiem skata leņķiem un no tā izveido kopēju 3D datu kopu. Tādējādi ir iespējams uzticami novērtēt ģeometriskās īpašības un atklāt novirzes tieši ražošanas procesa gaitā.
Precīza sarežģītu profilu ģeometriju pārbaude
Sistēma ir piemērota dažādām profilu formām, piemēram, apaļiem materiāliem, kvadrātveida profiliem, plakanajiem materiāliem, sešstūra profiliem, kā arī sarežģītām brīvformas ģeometrijām. Atkarībā no mērīšanas uzdevuma var automātiski pārbaudīt platumu, augstumu, biezumu, leņķus, rādiusus, dziļumus, spraugu izmērus, diametrus, kā arī formas, novietojuma un nominālo un faktisko vērtību novirzes. Tādējādi „profileGAUGE X.LP-3D“ nodrošina nepārtrauktu kvalitātes kontroli profilu un pusfabrikātu ražošanā.
Pielāgošana mērāmajam objektam
profileGAUGE X.LP-3D tiek pielāgots konkrētajam mērāmajam objektam atbilstoši lietojumam. Standarta versija X.LP-3D-50 nodrošina mērījumu diapazonu līdz 40 mm. Atkarībā no profila izmēra, ģeometrijas un attiecīgajiem pārbaudes parametriem ir iespējami paplašināti mērījumu diapazoni līdz 120 mm. Tādējādi tiek nodrošināts, ka novērtējamās kontūras zonas tiek optimāli reģistrētas un izvērtētas ar augstu precizitāti.
Automātiskā kalibrēšana stabiliem mērījumu rezultātiem
Lai nodrošinātu atkārtojamus mērīšanas apstākļus, profileGAUGE X.LP-3D ir aprīkots ar pilnībā automātisku kalibrēšanas funkciju. Kalibrēšana notiek mazāk nekā divās sekundēs un nodrošina ilgstoši stabilu mērīšanas veiktspēju ražošanas vidē. Tādējādi var samazināt temperatūras izmaiņu, mehānisko nobīdījumu vai sensora novirzes ietekmi. Turklāt programmatūra palīdz noteikt piemērotus kalibrēšanas intervālus, ņemot vērā konkrētos vides apstākļus.
Vienkārša integrācija ražošanas līnijās
Mērīšanas sistēma sastāv no mērīšanas kronšteina ar integrētiem lāzera skeneriem, kā arī no vadības skapja un paneļa datora ar 3DInspect un profileGAUGE programmatūru. Kompaktā sistēmas arhitektūra samazina integrācijas izmaksas un atvieglo gan iekļaušanu jaunās iekārtu koncepcijās, gan esošo ražošanas līniju modernizāciju. Izmantojot standarta rūpnieciskās saskarnes, mērījumu rezultātus var tieši nosūtīt uz augstākstāvošām sistēmām vai iekārtas vadības sistēmu. Tādējādi „profileGAUGE X.LP-3D“ nodrošina efektīvu kvalitātes nodrošināšanu ražošanas procesa laikā, savlaicīgu defektu atklāšanu un stabilu procesa uzraudzību, piemēram, ekstrūzijas līnijās un pusfabrikātu ražošanā.
08.09.2026 01:05
Jaunā augstas veiktspējas klase lāzertriangulācijāMicro-Epsilon optoNCDT 5500 ir ieguvis ievērojamu veiktspējas uzlabojumu: ar mērīšanas ātrumu 150...
31.08.2026 01:05
Lielus attālumus precīzi redzētJaunais optoNCDT ILR1041-150 lāzera attāluma sensors nodrošina uzticamus attāluma mērījumus līdz...
21.08.2026 01:05
Caurumu dziļuma noteikšana virpotās detaļāsIzgatavojot virpotas detaļas, piemēram, no vara, precīzs caurumu dziļums ir izšķiroša kvalitātes...
16.08.2026 01:05
Precīza defektu noteikšana virsbūvēs„surfaceCONTROL Automotive“ no „Micro-Epsilon“ ir robotizēta mērīšanas sistēma, kas paredzēta pil...
07.08.2026 02:10
Lielāka elastība konfokālās precizitātes mērījumiemMicro-Epsilon paplašina pasaulē lielāko konfokālo hromatisko sensoru sistēmu produktu klāstu ar j...
31.07.2026 01:05
Jaunas iespējas konfokālās mērīšanas tehnoloģijāAr jaunajiem divkanālu konfokālajiem kontrolieriem IFC2412 un IFC2417, kā arī sensoru sistēmām IF...